第二節(jié) 質(zhì)量控制方法
一、兩圖一表法---排列圖、因果分析圖、對策表
1.排列表----關鍵少數(shù)，次要多數(shù)。從小到大。
2.因果分析圖法----集思廣益，從大到小，從粗到細，追根溯源，直至采取具體措施
3.對策表---找出影響質(zhì)量的主要因素，進行解決。
二、工序能力分析法
影響工序質(zhì)量因素：人、機器、原料、方法、環(huán)境(4M1E)
影響質(zhì)量的因素分兩類：偶然因素和系統(tǒng)因素。
(一)直方圖法
(1)收集數(shù)據(jù)---隨機抽取N個質(zhì)量特性數(shù)，N大于等于50，按先后順序排列。
(2)找出值最小值，計算極差R = XMAX - XMIN
(3)確定組數(shù)K。K與數(shù)據(jù)量成正比，正態(tài)分布(對稱型)，K又稱奇數(shù)。
(4)求組距h= R/K = (XMAX - XMIN)/K
(5)確定組界。從最小值開始，先把最小值放在第一組中間位置，然后依組距依次排列，組界=(XMIN – h/2)~(XMIN + h/2)
(6)統(tǒng)計各組頻數(shù)。
(7)繪制直方圖。以分組序號為橫坐標，頻數(shù)為縱坐標。
(二)工序能力---工序在一定時間內(nèi)，處于穩(wěn)定狀態(tài)下加工產(chǎn)品質(zhì)量正常波動的幅度。它是以質(zhì)量特性值分布的6倍標準差表示的，即6σ.值越小，工序能力越強。
(三)工序能力指數(shù)---某一工序能力滿足質(zhì)量要求的程度，用Cp表示。
Cp=T/6σ (T為公差，σ為總體標準偏差 )
前提---工序質(zhì)量特征值服從正態(tài)分布，x～N (u,σ2)
1.雙側(cè)公差工序能力指數(shù)計算，工序公差T,上限為Tu,下限為TL，公差中心為Tm,樣本標準偏差s。若工序總體均值或工序分布中心與公差中心重合， x =TM,即工序無偏。
(1)當工序無偏時：
CP = T / 6σ=(TU - TL) / 6s
例題：某部件加工時，計劃尺寸為12mm(誤差為+0.015，-0.025)，通過隨機抽樣，得知，樣本平均值與公差中心重合，s=0.0067mm,求CP
CP=(12.015-11.975)/(6×0.0067)=1
(2)當有偏差時，工序能力指數(shù)為CPK,引入偏移量ε和偏移系數(shù)κ，則
ε=| TM – x | , κ=ε/ (T / 2) = 2 |TM - x| / T
CPK = (1-κ)CP =( T-2ε)/ 6s
2.單側(cè)公差工序能力指數(shù)計算----控制下限，用CPU和CPL代表上下限。
CPU = (TU - u)/3σ=(TU - x ) /3s
CPL=(u - TL)/3σ=(x - TL )/3s
3.工序能力指數(shù)的判斷與處置
一、兩圖一表法---排列圖、因果分析圖、對策表
1.排列表----關鍵少數(shù)，次要多數(shù)。從小到大。
2.因果分析圖法----集思廣益，從大到小，從粗到細，追根溯源，直至采取具體措施
3.對策表---找出影響質(zhì)量的主要因素，進行解決。
二、工序能力分析法
影響工序質(zhì)量因素：人、機器、原料、方法、環(huán)境(4M1E)
影響質(zhì)量的因素分兩類：偶然因素和系統(tǒng)因素。
(一)直方圖法
(1)收集數(shù)據(jù)---隨機抽取N個質(zhì)量特性數(shù)，N大于等于50，按先后順序排列。
(2)找出值最小值，計算極差R = XMAX - XMIN
(3)確定組數(shù)K。K與數(shù)據(jù)量成正比，正態(tài)分布(對稱型)，K又稱奇數(shù)。
(4)求組距h= R/K = (XMAX - XMIN)/K
(5)確定組界。從最小值開始，先把最小值放在第一組中間位置，然后依組距依次排列，組界=(XMIN – h/2)~(XMIN + h/2)
(6)統(tǒng)計各組頻數(shù)。
(7)繪制直方圖。以分組序號為橫坐標，頻數(shù)為縱坐標。
(二)工序能力---工序在一定時間內(nèi)，處于穩(wěn)定狀態(tài)下加工產(chǎn)品質(zhì)量正常波動的幅度。它是以質(zhì)量特性值分布的6倍標準差表示的，即6σ.值越小，工序能力越強。
(三)工序能力指數(shù)---某一工序能力滿足質(zhì)量要求的程度，用Cp表示。
Cp=T/6σ (T為公差，σ為總體標準偏差 )
前提---工序質(zhì)量特征值服從正態(tài)分布，x～N (u,σ2)
1.雙側(cè)公差工序能力指數(shù)計算，工序公差T,上限為Tu,下限為TL，公差中心為Tm,樣本標準偏差s。若工序總體均值或工序分布中心與公差中心重合， x =TM,即工序無偏。
(1)當工序無偏時：
CP = T / 6σ=(TU - TL) / 6s
例題：某部件加工時，計劃尺寸為12mm(誤差為+0.015，-0.025)，通過隨機抽樣，得知，樣本平均值與公差中心重合，s=0.0067mm,求CP
CP=(12.015-11.975)/(6×0.0067)=1
(2)當有偏差時，工序能力指數(shù)為CPK,引入偏移量ε和偏移系數(shù)κ，則
ε=| TM – x | , κ=ε/ (T / 2) = 2 |TM - x| / T
CPK = (1-κ)CP =( T-2ε)/ 6s
2.單側(cè)公差工序能力指數(shù)計算----控制下限，用CPU和CPL代表上下限。
CPU = (TU - u)/3σ=(TU - x ) /3s
CPL=(u - TL)/3σ=(x - TL )/3s
3.工序能力指數(shù)的判斷與處置