繪制宗地草圖時(shí)丈量邊長的要求

繪制宗地草圖時(shí)丈量邊長的要求
    (一)解析法地籍測(cè)量
    對(duì)于宗地界址邊長較長的，不需丈量相鄰界址點(diǎn)間距，界址
    邊長可以采用坐標(biāo)反算；對(duì)小宗地相鄰界址點(diǎn)間距必須丈量，記
    錄界址邊的直角和平角條件，界址點(diǎn)與相鄰地物的關(guān)系距離、建
    筑物周邊長等可選擇性地丈量。
    (二)部分解析法地籍測(cè)量
    對(duì)于采用解析法測(cè)定坐標(biāo)的界址點(diǎn)的大宗地，且界址邊長較
    長的，不需丈量相鄰界址點(diǎn)間距，界址邊長可以采用坐標(biāo)反算；
    對(duì)于小宗地相鄰界址點(diǎn)間距必須丈量；記錄界址邊的直角和平角
    條件；對(duì)于不是用解析法測(cè)定坐標(biāo)的界址點(diǎn)都必須勘丈相鄰界址
    點(diǎn)間距；界址點(diǎn)與相鄰地物的關(guān)系距離及建筑物周邊長等可選擇
    性地丈量。
    三)圖解勘丈法地籍測(cè)量
    相鄰界址點(diǎn)間距、幾何條件、界址點(diǎn)與相鄰地物的關(guān)系距離
    必須丈量，建筑物周邊長等可選擇性地丈量。
    題目：相鄰界址點(diǎn)間距、幾何條件、界址點(diǎn)與相鄰地物的關(guān)系距離
    必須丈量，建筑物周邊長等可選擇性地丈量是：（）
    A．解析法地籍測(cè)量
    B．部分解析法地籍測(cè)量
    C．圖解勘丈法地籍測(cè)量
    D．部分圖解勘丈法地籍測(cè)量
    答案：（C）