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1、以下分別用來表示分布的中心位置和散布的大小的特征值是（ ）。
A．均值、方差
B．方差、均值
C．標(biāo)準(zhǔn)差、均值
D．方差、標(biāo)準(zhǔn)差
答案：A
解析：均值是用來表示分布的中心位置；方差用來表示分布的大?。粯?biāo)準(zhǔn)差也是表示分布的大小的。
2、以下關(guān)于抽樣分布說法錯(cuò)誤的是（ ）。
A．統(tǒng)計(jì)量的分布稱為抽樣分布
B．每一個(gè)統(tǒng)計(jì)量都有一個(gè)抽樣分布
C．不同的統(tǒng)計(jì)量可得不同的抽樣分布
D．抽樣分布只能通過理論推導(dǎo)獲得
答案：D
解析：一些抽樣分布可通過抽樣方法的運(yùn)用獲得，一些可通過理論推導(dǎo)獲得。
3、現(xiàn)已知X1，X2，…，Xn是從某正態(tài)總體隨機(jī)抽取的一個(gè)樣本，在μ未知的情況下，對(duì)于以下假設(shè)的檢驗(yàn)問題H0：σ2＝σ20 H1：σ2＝σ20則給定α下，該檢驗(yàn)的拒絕域?yàn)椋?）。
A．x2＞x21-α（n-1）
B．x2＜x2α(n-1)
C．x2＞x21-α/2(n-1)
D．x2＞x2α/2(n-1)
答案：C
解析：μ未知的場(chǎng)合下，對(duì)正態(tài)值σ2作假設(shè)檢驗(yàn)時(shí)，其拒絕域應(yīng)在正半軸上，具體是χ2＜χ2α/2(n-1)或χ2＞χ21-ａ/2(n-1)
4、某電子產(chǎn)品經(jīng)檢驗(yàn)后才能出廠，其合格率應(yīng)不小于95%。現(xiàn)隨機(jī)抽取100個(gè)檢驗(yàn)，發(fā)現(xiàn)有7個(gè)不合格品，問該批產(chǎn)品能否出廠（ ）。(取α＝0.05)
A．可以
B．不可以
C．無法判斷
D．需重新檢驗(yàn)
答案：B
5、一鑄件上的缺陷數(shù)X服從泊松分布，每鑄件上的平均缺陷數(shù)是0.5，則：一鑄件上僅有一個(gè)缺陷的概率為（ ）。
A．0.535
B．0.303
C．0.380
D．0.335
答案：B
解析：P（x=1）=0.5e-0.5=0.303
1、以下分別用來表示分布的中心位置和散布的大小的特征值是（ ）。
A．均值、方差
B．方差、均值
C．標(biāo)準(zhǔn)差、均值
D．方差、標(biāo)準(zhǔn)差
答案：A
解析：均值是用來表示分布的中心位置；方差用來表示分布的大?。粯?biāo)準(zhǔn)差也是表示分布的大小的。
2、以下關(guān)于抽樣分布說法錯(cuò)誤的是（ ）。
A．統(tǒng)計(jì)量的分布稱為抽樣分布
B．每一個(gè)統(tǒng)計(jì)量都有一個(gè)抽樣分布
C．不同的統(tǒng)計(jì)量可得不同的抽樣分布
D．抽樣分布只能通過理論推導(dǎo)獲得
答案：D
解析：一些抽樣分布可通過抽樣方法的運(yùn)用獲得，一些可通過理論推導(dǎo)獲得。
3、現(xiàn)已知X1，X2，…，Xn是從某正態(tài)總體隨機(jī)抽取的一個(gè)樣本，在μ未知的情況下，對(duì)于以下假設(shè)的檢驗(yàn)問題H0：σ2＝σ20 H1：σ2＝σ20則給定α下，該檢驗(yàn)的拒絕域?yàn)椋?）。
A．x2＞x21-α（n-1）
B．x2＜x2α(n-1)
C．x2＞x21-α/2(n-1)
D．x2＞x2α/2(n-1)
答案：C
解析：μ未知的場(chǎng)合下，對(duì)正態(tài)值σ2作假設(shè)檢驗(yàn)時(shí)，其拒絕域應(yīng)在正半軸上，具體是χ2＜χ2α/2(n-1)或χ2＞χ21-ａ/2(n-1)
4、某電子產(chǎn)品經(jīng)檢驗(yàn)后才能出廠，其合格率應(yīng)不小于95%。現(xiàn)隨機(jī)抽取100個(gè)檢驗(yàn)，發(fā)現(xiàn)有7個(gè)不合格品，問該批產(chǎn)品能否出廠（ ）。(取α＝0.05)
A．可以
B．不可以
C．無法判斷
D．需重新檢驗(yàn)
答案：B
5、一鑄件上的缺陷數(shù)X服從泊松分布，每鑄件上的平均缺陷數(shù)是0.5，則：一鑄件上僅有一個(gè)缺陷的概率為（ ）。
A．0.535
B．0.303
C．0.380
D．0.335
答案：B
解析：P（x=1）=0.5e-0.5=0.303