1.危害矩陣圖是怎么回事，能在解釋一下嗎?
答：危害矩陣嚴(yán)酷度和故障模式發(fā)生概率等級對應(yīng)的矩陣圖，距原點(diǎn)越遠(yuǎn)，危害程度越大。
2.互不相容事件與相互獨(dú)立事件用維恩圖怎么表示出區(qū)別?
答：互不相容可用教材圖1.1-3，兩個(gè)集合之間沒有相同的樣本點(diǎn)。 相互獨(dú)立是兩個(gè)事件一個(gè)事件發(fā)生與否不受另一個(gè)事件的影響。
3.獨(dú)立事件、互補(bǔ)相容事件、對立事件的區(qū)別是什么?
答：對立事件是指一個(gè)事件和與它完全相反的事件。
4.同樣一道2006年試題，P控制圖，n=25，UCL=0.28,CL=0.10,CLC=-, 若n=100,則UCL=0.19,LCL=0.01,不明白計(jì)算過程
答：此題可參考教材186頁，P控制圖的控制限公式， UCL=P+3*(*表示公式后面的部分)則CL=0.1，3*=0.18
現(xiàn)n增大4倍，*值相應(yīng)減小二倍.3*`=0.09，改變后的UCL=P+3*`=0.1+0.09=0.19
5.某電子產(chǎn)品由17個(gè)串聯(lián)部件組成，要求該產(chǎn)品的CP達(dá)到0.67，
1、產(chǎn)品的不合格品率不能大于---?
2、當(dāng)對此要求選用抽樣方案時(shí)，對應(yīng)的AQL值?
3、要求部件的不合格品率要低于多少?
4、對部件的質(zhì)量要求選用抽樣方案時(shí)，AQL 為多少?
答：CP值和不合格品率是一一對應(yīng)的.
已知CP值勤為0.67,則可知不合格品率為4.55%.
對應(yīng)的AQL是過程允許的不合格品率的值,已知過程的不合格品率為4.55%.
由于是17個(gè)相串聯(lián)的部件,設(shè)部件的合格率為P,則P的17次方不小于95.45%,可計(jì)算得出部件的合格品率為99.73%,部件不合格品率不應(yīng)大于0.27%.
對部件質(zhì)量選用抽樣方案時(shí),AQL不應(yīng)大于0.27%.
答：危害矩陣嚴(yán)酷度和故障模式發(fā)生概率等級對應(yīng)的矩陣圖，距原點(diǎn)越遠(yuǎn)，危害程度越大。
2.互不相容事件與相互獨(dú)立事件用維恩圖怎么表示出區(qū)別?
答：互不相容可用教材圖1.1-3，兩個(gè)集合之間沒有相同的樣本點(diǎn)。 相互獨(dú)立是兩個(gè)事件一個(gè)事件發(fā)生與否不受另一個(gè)事件的影響。
3.獨(dú)立事件、互補(bǔ)相容事件、對立事件的區(qū)別是什么?
答：對立事件是指一個(gè)事件和與它完全相反的事件。
4.同樣一道2006年試題，P控制圖，n=25，UCL=0.28,CL=0.10,CLC=-, 若n=100,則UCL=0.19,LCL=0.01,不明白計(jì)算過程
答：此題可參考教材186頁，P控制圖的控制限公式， UCL=P+3*(*表示公式后面的部分)則CL=0.1，3*=0.18
現(xiàn)n增大4倍，*值相應(yīng)減小二倍.3*`=0.09，改變后的UCL=P+3*`=0.1+0.09=0.19
5.某電子產(chǎn)品由17個(gè)串聯(lián)部件組成，要求該產(chǎn)品的CP達(dá)到0.67，
1、產(chǎn)品的不合格品率不能大于---?
2、當(dāng)對此要求選用抽樣方案時(shí)，對應(yīng)的AQL值?
3、要求部件的不合格品率要低于多少?
4、對部件的質(zhì)量要求選用抽樣方案時(shí)，AQL 為多少?
答：CP值和不合格品率是一一對應(yīng)的.
已知CP值勤為0.67,則可知不合格品率為4.55%.
對應(yīng)的AQL是過程允許的不合格品率的值,已知過程的不合格品率為4.55%.
由于是17個(gè)相串聯(lián)的部件,設(shè)部件的合格率為P,則P的17次方不小于95.45%,可計(jì)算得出部件的合格品率為99.73%,部件不合格品率不應(yīng)大于0.27%.
對部件質(zhì)量選用抽樣方案時(shí),AQL不應(yīng)大于0.27%.