Control Chart控制圖:
以統(tǒng)計推斷理論為基礎,設置統(tǒng)計控制限,按時間坐標顯示獨立測量值、平均值或其他統(tǒng)計值的折線圖。
COPQ(Cost Of Poor Quality)不良質量成本損失:
由于缺陷或不良質量造成的成本損失。
CTQ(Critical to Quality)關鍵質量特性:
滿足關鍵的顧客要求或過程要求的產品或過程特性。
Defect 缺陷:
不滿足CTQ規(guī)范的任何事件。
DOE(Design of Experiment) 實驗設計:
析因實驗和相應的改進方法。
DPMO(Defect Per Million Opportunity):
百萬缺陷機會缺陷數
ADPO(Defect Per Opportunity):
單位機會缺陷數
DPU(Defect Per Unit):
單位缺陷數
FMEA(Failure Mode and Effects Analysis)失效模式與影響分析:
用來分析產品或服務及其過程由于失效導致風險的方法。
FTY(First Time Yield):
首次產出率
以統(tǒng)計推斷理論為基礎,設置統(tǒng)計控制限,按時間坐標顯示獨立測量值、平均值或其他統(tǒng)計值的折線圖。
COPQ(Cost Of Poor Quality)不良質量成本損失:
由于缺陷或不良質量造成的成本損失。
CTQ(Critical to Quality)關鍵質量特性:
滿足關鍵的顧客要求或過程要求的產品或過程特性。
Defect 缺陷:
不滿足CTQ規(guī)范的任何事件。
DOE(Design of Experiment) 實驗設計:
析因實驗和相應的改進方法。
DPMO(Defect Per Million Opportunity):
百萬缺陷機會缺陷數
ADPO(Defect Per Opportunity):
單位機會缺陷數
DPU(Defect Per Unit):
單位缺陷數
FMEA(Failure Mode and Effects Analysis)失效模式與影響分析:
用來分析產品或服務及其過程由于失效導致風險的方法。
FTY(First Time Yield):
首次產出率

