腦電圖偽差

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方法及內(nèi)容
    腦電圖易受各種因素的影響而出現(xiàn)偽差,所以在描記中應(yīng)時(shí)刻注意識(shí)別和排除。常見的偽差有:
    1.來(lái)源于受檢者的偽差 肌波、眨眼、眼球動(dòng)作、血管波、心電圖、呼吸動(dòng)作、軀體動(dòng)作、出汗、不自主動(dòng)作、假牙咬合電位等。
    2.來(lái)源于電極的偽差 電極阻值過高、電極阻值不同、電極接觸不良、電極距離不等、電極短路、電極導(dǎo)聯(lián)夾斷線、電極夾連接不良、導(dǎo)聯(lián)線與輸入插口接觸不良、微音器效應(yīng)等。
    3.腦電圖儀器功能失?!〗拥夭涣肌⒎糯笃鲀?nèi)元、部件故障及標(biāo)準(zhǔn)電壓訊號(hào)失常(機(jī)械性阻尼、電路阻尼)、前放器電源供應(yīng)失常等。
    4.外界電干擾 主要為電磁波干擾及靜電感應(yīng)。常來(lái)自腦電圖室附近的超短波儀、高頻震蕩器、X線機(jī)和大功率的其他電氣器械的電磁波干擾,沒有屏蔽的各類交流電源線,室內(nèi)其他電子儀器同時(shí)使用,地線不合格,受檢者穿著化纖衣服產(chǎn)生靜電感應(yīng)等。
    如出現(xiàn)偽差要隨時(shí)排除及在描記中做出標(biāo)記。為減少偽差,腦電圖室應(yīng)設(shè)有屏蔽。