Safelight 安全燈
Sampling probe 取樣探頭
Saturation 飽和
Saturation，magnetic 磁飽和
Saturation level 飽和電平
Scan on grid lines 格子線掃查
Scan pitch 掃查間距
Scanning 掃查
Scanning index 掃查標(biāo)記
Scanning directly on the weld 焊縫上掃查
Scanning path 掃查軌跡
Scanning sensitivity 掃查靈敏度
Scanning speed 掃查速度
Scanning zone 掃查區(qū)域
Scattared energy 散射能量
Scatter unsharpness 散射不清晰度
Scattered neutrons 散射中子
Scattered radiation 散射輻射
Scattering 散射
Schlieren system 施利倫系統(tǒng)
Scintillation counter 閃爍計(jì)數(shù)器
Scintillator and scintillating crystals 閃爍器和閃爍晶體
Screen 屏
Screen unsharpness 熒光增感屏不清晰度
Screen-type film 熒光增感型膠片
SE probe SE探頭
Search-gas 探測(cè)氣體
Second critical angle 第二臨界角
Secondary radiation 二次射線
Secondary coil 二次線圈
Secondary radiation 次級(jí)輻射
Selectivity 選擇性
Semi-conductor detector 半導(dǎo)體探測(cè)器
Sensitirity va1ue 靈敏度值
Sensitivity 靈敏度
Sensitivity of leak test 泄漏檢測(cè)靈敏度
Sensitivity control 靈敏度控制
Shear wave 切變波
Shear wave probe 橫波探頭
Shear wave technique 橫波法
Shim 薄墊片
Shot 沖擊通電
Side lobe 副瓣
Side wall 側(cè)面
Sievert(Sv) 希(沃特)
Signal 信號(hào)
Signal gradient 信號(hào)梯度
Signal over load point 信號(hào)過(guò)載點(diǎn)
Signal overload level 信號(hào)過(guò)載電平
Signal to noise ratio 信噪比
Single crystal probe 單晶片探頭
Single probe technique 單探頭法
Single traverse technique 一次波法
Sizing technique 定量法
Skin depth 集膚深度
Skin effect 集膚效應(yīng)
Skip distance 跨距
Skip point 跨距點(diǎn)
Sky shine(air scatter) 空中散射效應(yīng)
Sniffing probe 嗅吸探頭
Soft X-rays 軟X射線
Soft-faced probe 軟膜探頭
Solarization 負(fù)感作用
Solenoid 螺線管
Soluble developer 可溶顯像劑
Solvent remover 溶劑去除劑
Solvent cleaners 溶劑清除劑
Solvent developer 溶劑顯像劑
Solvent remover 溶劑洗凈劑
Solvent-removal penetrant 溶劑去除型滲透劑
Sorption 吸著
Sound diffraction 聲繞射
Sound insulating layer 隔聲層
Sound intensity 聲強(qiáng)
Sound intensity level 聲強(qiáng)級(jí)
Sound pressure 聲壓
Sound scattering 聲散射
Sound transparent layer 透聲層
Sound velocity 聲速
Source 源
Source data label 放射源數(shù)據(jù)標(biāo)簽
Source location 源定位
Source size 源尺寸
Source-film distance 射線源-膠片距離
Spacial frequency 空間頻率
Spark coil leak detector 電火花線圈檢漏儀
Specific activity 放射性比度
Specified sensitivity 規(guī)定靈敏度
Standard 標(biāo)準(zhǔn)
Standard 標(biāo)準(zhǔn)試樣
Standard leak rate 標(biāo)準(zhǔn)泄漏率
Standard leak 標(biāo)準(zhǔn)泄漏孔
Standard tast block 標(biāo)準(zhǔn)試塊
Standardization instrument 設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)化
Standing wave; stationary wave 駐波
Step wedge 階梯楔塊
Step- wadge calibration film 階梯楔塊校準(zhǔn)底片
Step- wadge comparison film 階梯楔塊比較底片
Step wedge 階梯楔塊
Step-wedge calibration film 階梯-楔塊校準(zhǔn)片
Step-wedge comparison film 階梯-楔塊比較片
Stereo-radiography 立體射線透照術(shù)
Subject contrast 被檢體對(duì)比度
Subsurface discontinuity 近表面不連續(xù)性
Suppression 抑制
Surface echo 表面回波
Surface field 表面磁場(chǎng)
Surface noise 表面噪聲
Surface wave 表面波
Surface wave probe 表面波探頭
Surface wave technique 表面波法
Surge magnetization 脈動(dòng)磁化
Surplus sensitivity 靈敏度余量
Suspension 磁懸液
Sweep 掃描
Sweep range 掃描范圍
Sweep speed 掃描速度
Swept gain 掃描增益
Swivel scan 環(huán)繞掃查
System exanlillatien threshold 系統(tǒng)檢驗(yàn)閾值
System inclacel artifacts 系統(tǒng)感生物
System noise 系統(tǒng)噪聲
Sampling probe 取樣探頭
Saturation 飽和
Saturation，magnetic 磁飽和
Saturation level 飽和電平
Scan on grid lines 格子線掃查
Scan pitch 掃查間距
Scanning 掃查
Scanning index 掃查標(biāo)記
Scanning directly on the weld 焊縫上掃查
Scanning path 掃查軌跡
Scanning sensitivity 掃查靈敏度
Scanning speed 掃查速度
Scanning zone 掃查區(qū)域
Scattared energy 散射能量
Scatter unsharpness 散射不清晰度
Scattered neutrons 散射中子
Scattered radiation 散射輻射
Scattering 散射
Schlieren system 施利倫系統(tǒng)
Scintillation counter 閃爍計(jì)數(shù)器
Scintillator and scintillating crystals 閃爍器和閃爍晶體
Screen 屏
Screen unsharpness 熒光增感屏不清晰度
Screen-type film 熒光增感型膠片
SE probe SE探頭
Search-gas 探測(cè)氣體
Second critical angle 第二臨界角
Secondary radiation 二次射線
Secondary coil 二次線圈
Secondary radiation 次級(jí)輻射
Selectivity 選擇性
Semi-conductor detector 半導(dǎo)體探測(cè)器
Sensitirity va1ue 靈敏度值
Sensitivity 靈敏度
Sensitivity of leak test 泄漏檢測(cè)靈敏度
Sensitivity control 靈敏度控制
Shear wave 切變波
Shear wave probe 橫波探頭
Shear wave technique 橫波法
Shim 薄墊片
Shot 沖擊通電
Side lobe 副瓣
Side wall 側(cè)面
Sievert(Sv) 希(沃特)
Signal 信號(hào)
Signal gradient 信號(hào)梯度
Signal over load point 信號(hào)過(guò)載點(diǎn)
Signal overload level 信號(hào)過(guò)載電平
Signal to noise ratio 信噪比
Single crystal probe 單晶片探頭
Single probe technique 單探頭法
Single traverse technique 一次波法
Sizing technique 定量法
Skin depth 集膚深度
Skin effect 集膚效應(yīng)
Skip distance 跨距
Skip point 跨距點(diǎn)
Sky shine(air scatter) 空中散射效應(yīng)
Sniffing probe 嗅吸探頭
Soft X-rays 軟X射線
Soft-faced probe 軟膜探頭
Solarization 負(fù)感作用
Solenoid 螺線管
Soluble developer 可溶顯像劑
Solvent remover 溶劑去除劑
Solvent cleaners 溶劑清除劑
Solvent developer 溶劑顯像劑
Solvent remover 溶劑洗凈劑
Solvent-removal penetrant 溶劑去除型滲透劑
Sorption 吸著
Sound diffraction 聲繞射
Sound insulating layer 隔聲層
Sound intensity 聲強(qiáng)
Sound intensity level 聲強(qiáng)級(jí)
Sound pressure 聲壓
Sound scattering 聲散射
Sound transparent layer 透聲層
Sound velocity 聲速
Source 源
Source data label 放射源數(shù)據(jù)標(biāo)簽
Source location 源定位
Source size 源尺寸
Source-film distance 射線源-膠片距離
Spacial frequency 空間頻率
Spark coil leak detector 電火花線圈檢漏儀
Specific activity 放射性比度
Specified sensitivity 規(guī)定靈敏度
Standard 標(biāo)準(zhǔn)
Standard 標(biāo)準(zhǔn)試樣
Standard leak rate 標(biāo)準(zhǔn)泄漏率
Standard leak 標(biāo)準(zhǔn)泄漏孔
Standard tast block 標(biāo)準(zhǔn)試塊
Standardization instrument 設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)化
Standing wave; stationary wave 駐波
Step wedge 階梯楔塊
Step- wadge calibration film 階梯楔塊校準(zhǔn)底片
Step- wadge comparison film 階梯楔塊比較底片
Step wedge 階梯楔塊
Step-wedge calibration film 階梯-楔塊校準(zhǔn)片
Step-wedge comparison film 階梯-楔塊比較片
Stereo-radiography 立體射線透照術(shù)
Subject contrast 被檢體對(duì)比度
Subsurface discontinuity 近表面不連續(xù)性
Suppression 抑制
Surface echo 表面回波
Surface field 表面磁場(chǎng)
Surface noise 表面噪聲
Surface wave 表面波
Surface wave probe 表面波探頭
Surface wave technique 表面波法
Surge magnetization 脈動(dòng)磁化
Surplus sensitivity 靈敏度余量
Suspension 磁懸液
Sweep 掃描
Sweep range 掃描范圍
Sweep speed 掃描速度
Swept gain 掃描增益
Swivel scan 環(huán)繞掃查
System exanlillatien threshold 系統(tǒng)檢驗(yàn)閾值
System inclacel artifacts 系統(tǒng)感生物
System noise 系統(tǒng)噪聲